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SXJS-IV SXJS-IV抗干扰介质损耗测试仪具有多种测量方式,可选择正/反接线、内/外标准电容器、CVT和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。
联系电话:13774416198
SXJS-IV SXJS-IV抗干扰介质损耗测试仪
测量内容 | tgδ范围 | 电容量范围(Cx) | 试品类型 | 基本误差 |
介质损耗因数tgδ | 0~1 | 50pF~60000pF | 非接地 | ±(1%读数+0.0005) |
接地 | ±(1%读数+0.0010) | |||
10pF~50pF或60000pF以上 | 非接地 | ±(1%读数+0.0010) | ||
接地 | ±(2%读数+0.0020) | |||
3pF~10pF | 非接地与接地 | |||
电容量 | 50pF以上 | ±(1%读数+1pF) | ||
50pF以下 | ±(1%读数+2pF) |